隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展，芯片封裝技術(shù)面臨著越來越高的性能要求。導(dǎo)電銀膠作為一種關(guān)鍵的封裝材料，其性能直接影響到芯片的導(dǎo)電性、熱傳導(dǎo)性和長期可靠性。科準(zhǔn)測控小編認(rèn)為，全面了解導(dǎo)電銀膠的性能參數(shù)及其評估方法，對于封裝工藝的優(yōu)化和產(chǎn)品質(zhì)量的提升至關(guān)重要。
本文科準(zhǔn)測控小編將系統(tǒng)介紹導(dǎo)電銀膠的力學(xué)性能測試方法、評估原理、測試標(biāo)準(zhǔn)、儀器設(shè)備以及完整的測試流程，為半導(dǎo)體封裝工程師提供實(shí)用的技術(shù)參考。
一、導(dǎo)電銀膠評估原理
導(dǎo)電銀膠的性能評估基于材料科學(xué)和電子封裝的基本原理，主要包括以下幾個方面：
導(dǎo)電性能評估原理：基于歐姆定律，通過測量電壓降和電流計算電阻率
力學(xué)性能評估原理：基于材料力學(xué)理論，評估材料在不同應(yīng)力條件下的響應(yīng)
熱性能評估原理：基于聚合物相變理論和熱力學(xué)原理，評估材料的熱穩(wěn)定性
這些評估需要綜合考慮材料本身的特性及其與芯片、基板之間的相互作用。
二、關(guān)鍵參數(shù)及評估標(biāo)準(zhǔn)
1、力學(xué)性能
a、剪切強(qiáng)度
測試標(biāo)準(zhǔn)：JEDEC JESD22-B117、MIL-STD-883 Method 2019
評估方法：使用推拉力測試儀測量芯片脫離基板所需的最大力
合格標(biāo)準(zhǔn)：對于2mm×2mm芯片，剪切強(qiáng)度應(yīng)≥8kg
b、粘結(jié)強(qiáng)度
測試標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D903、ASTM D4541
評估方法：
剝離強(qiáng)度測試：測量單位寬度的剝離力
拉伸強(qiáng)度測試：測量垂直方向的粘結(jié)力
合格標(biāo)準(zhǔn)：視具體應(yīng)用而定，通常要求≥5MPa
三、測試儀器介紹
1、Alpha W260推拉力測試儀
Alpha W260推拉力測試儀是評估導(dǎo)電銀膠力學(xué)性能的專業(yè)設(shè)備，具有以下特點(diǎn)：
高精度測量：采用24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的高精度、高重復(fù)性和高再現(xiàn)性。
多功能測試：支持推力、拉力、剪切力等多種測試模式，適用于多種封裝形式和測試需求。
智能化操作：配備搖桿操作和X、Y軸自動工作臺，簡化了測試流程，提高了測試效率。
安全設(shè)計：每個工位均設(shè)有獨(dú)立安全高度和限速，有效防止誤操作對設(shè)備和樣品的損壞。
模塊化設(shè)計：能夠自動識別并更換不同量程的測試模組，適應(yīng)不同產(chǎn)品的測試需求。
2、推刀
3、常用工裝夾具
4、KZ-68SC-05XY萬能材料試驗機(jī)
四、測試流程
步驟一、樣品制備
選擇標(biāo)準(zhǔn)測試芯片和基板
按照供應(yīng)商推薦工藝點(diǎn)膠、貼裝
按規(guī)定的固化條件(溫度、時間、氣氛)固化銀膠
步驟二、力學(xué)性能測試流程
1、剪切強(qiáng)度測試(使用Alpha W260推拉力測試儀)
將樣品固定在測試平臺上
設(shè)置測試參數(shù)：測試速度、剪切高度等
啟動測試，推刀以恒定速度推動芯片
記錄芯片脫離時的最大力值
計算剪切強(qiáng)度：剪切強(qiáng)度=最大力值/芯片面積
2、粘結(jié)強(qiáng)度測試
a、剝離測試
將測試膠帶粘貼在固化后的銀膠表面
以恒定角度和速度剝離膠帶
測量剝離過程中的力值變化
b、拉伸測試
將樣品固定在拉伸夾具上
以恒定速度拉伸至樣品分離
記錄最大拉伸力
步驟三、結(jié)果分析與可靠性評估
測試完成后，需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計分析：
計算平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等統(tǒng)計量
與標(biāo)準(zhǔn)要求或歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行對比
評估批次一致性
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